一键式测量仪CDK系列

CDK（双倍率拼接）系列技术规格

仪器介绍

大视野影像闪测、高精度、全自动，开创快速测量新理念,
通过将远心成像与智能图像处理软件的完美结合，
任何繁琐的测量任务，都变得无比简单。
只需把工件放置到有效测量区域，然后轻轻按一键，
工件所有二维尺寸瞬间完成测量。

应用行业

广泛应用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具等尺寸较小的产品及零部件的批量快速测量。

仪器特点

1.打破尺寸测量的常规。

2.大口径高景深，实现全视野范围成像清晰，超低畸变。
 

3.高分辨率数字相机。仪器采用1200万~4300万像素高分辨率数字相机。
4.软件采用先进的20：1亚像素图象边缘处理。
 

5.小二乘法回归处理可自动祛除毛刺和异常点，将对特征位置上的影响降低到低。
 

6.自动识别工件、无需定位。
 

7.高效的批量测量。
测量范围内一次性可测量大于20000个尺寸，100个尺寸测量时间小于1秒，大幅缩短测量时间，提高测量效率。
 

8.多个工件任意摆放，自动识别，批量测量。

软件介绍

完全自主研发，软件界面简洁、功能强大，极易学习；采用我司自主研发的畸变校正技术，保证在视野的各位置、各角度测量结果稳定精准；自主研发的图像拼接技术，保证拼接误差小于0.003mm。
（特殊软件功能可接受定制 ）

用户程序：
(一)自动匹配工件，任意放置，一键测量。可自动搜索匹配并调出用户程序。可框选建立匹配、多个位置框选组合建立匹配、用测量元素建立匹配、可导入CAD建立匹配。可建立程序组，实现工件多个面翻面测量。
(二)全面的测量元素：
点、高点、线、高线、圆（中心坐标，半径、直径、真圆度、周长、面积，大半径、小半径）、弧、矩形（中心坐标，长、宽、周长、面积）、椭圆（中心坐标，长轴、短轴、周长、面积）、键槽（中心坐标，长、宽、周长、面积）、导入CAD轮廓扫描比对、轮廓PV、面积对比、圆柱直径、密封圈（通过周长计算半径、密封圈大半径、小半径、厚度）、测量结果再计算（大值、小值、平均值、求和）、二维码识别、条码识别。
(三)标注：
距离、X距离、Y距离、半径、直径、角度。
(四)形状误差评定：
直线度、圆度。
(五)位置误差评定：
平行度、垂直度、对称度、同心度、位置度。
(六)坐标系转换
笛卡尔坐标（X，Y）与极坐标（R，θ）可方便选择。可即时转换测量值的基本单位mm、inch、mil。 坐标平移、坐标旋转，建立工件坐标系。
(七)测数据
可以自定义EXCEL模板，可以指定输出单元格。软件自带CPK模板，可以计算Mean、Maximum、Minimum、Cp、Cpkl、Cpku、Cpk。
(八)其他
1、软件语言：多国语言可选，语言包开放，可定义翻译修改。
2、 图像和绘图区共用，所见即所得，可自定义：颜色、线宽、字体大小、背景颜色。
3、对焦辅助、灯光辅助功能，减少人为误差。
4、合格/不合格（OK/NG），并报警提示，可语音输出：OK、NG。
5、 可快速扫描轮廓，并导出到CAD。
6、 可选配IO卡，外触发测量并OK NG 信号输出。
(九)SPC：
包括：直方图、Cpk趋势图、X控制图、Xbar-R控制图、Xmedian-R控制图、X-Rs控制图。